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ATE是Automatic Test Equipment(自动化测试设备)的英文缩写,是一种通过计算机控制进行器件、电路板和子系统等测试的设备。通过计算机编程取代人工劳动,自动化的完成测试序列。    
     ATE在60年代早期始于快捷半导体(Fairchild)。 那时Fairchild生产门电路器件(如14管脚双列直插与非门IC)和简单的模拟集成电路器件(如6管脚双列直插运算放大器)。当时对于器件量产测试是一个很大的问题。 Fairchild开发了计算机控制的测试设备,如5000C用于简单模拟器件测试,Sentry 200用于简单门电路器件测试。两种机器都是由Fairchild自主开发的计算机FST2进行控制。FST2是一种简单的24位,10MHz计算机。 
   70年代早期,器件开发由小规模集成电路过渡到中规模集成电路,又于80年代早期从大规模集成电路过渡到超大规模集成电路。对于器件制造商来说,这时计算机控制的测试系统已经成为主要的测试设备。Fairchild开发了Sentry 400, Sentry 600, Sentry 7, Sentry 8测试系统用于数字器件测试。 
   80年代中期,门阵列器件开发成功,测试方面要求达到256管脚,速度高于40MHz。 针对这一需求,Fairchild 试图开发Sentry 50,但是失败了。Fairchild将其ATE部门卖给斯伦贝谢,成为斯伦贝谢测试系统公司。    Fairchild将测试系统卖给斯伦贝谢以后,许多专家离开了Fairchild加入Genrad,成立了Genrad西海岸系统公司。GR16 和 GR18数字测试系统由这里诞生了。这些新型的测试系统每个管脚有独立的测试资源,管脚数最多达144。不久这些工程师离开Ganrad成立了Trillium测试系统,并将其卖给LTX。之后这些工程师又离开了LTX,他们中的一些加入了科利登(Credence),其它人加入了其他的ATE公司。 同一时期,泰瑞达的自动化测试设备在模拟测试和存储器测试方面占据统治地位。
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